R&S ZVA 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀深圳市美佳特

R&S ZVA 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

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R&S^®ZVA 系列產(chǎn)品屬于矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀，zui多可支持 4 個(gè)信號源，可以地測量高達 110 GHz 的信號。 需要對高性能、多功能型有源或無(wú)源組件和模塊進(jìn)行要求*的測量時(shí)，該系列產(chǎn)品是理想的選擇。 其高頻型產(chǎn)品的頻率范圍zui大可擴展至 500 GHz。

主要特點(diǎn)

• *臺具有以下特點(diǎn)的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

° 帶 4 個(gè)內部信號源，頻率高達 67 GHz，可以快速地對放大器和混頻器進(jìn)行測量

° 具有 4 個(gè)相位相干信號發(fā)生器功能（頻率可高達 67 GHz）

° 中頻帶寬可高達 30 MHz，可以實(shí)現放大器和混頻器的脈沖測量功能

• 可以對帶或不帶本振接入的混頻器的變頻損耗進(jìn)行相位和群延時(shí)測量

• 可以對放大器和混頻器進(jìn)行諧波、壓縮、互調和 Hot S22測量

• 實(shí)現了無(wú)噪聲源噪聲系數定義的新方法

• 實(shí)現了脈內掃頻測量、脈沖平均掃頻測量和脈沖包絡(luò )測量

• 2 個(gè)內部脈沖發(fā)生器

• 通過(guò) R&S®ZVAX24，實(shí)現了內部脈沖調制器和組合器

• 嵌入/去嵌入功能通過(guò)虛擬網(wǎng)絡(luò )實(shí)現阻抗匹配

• 支持真差分測量，可以表現出平衡設備的非線(xiàn)性效應

• 多功能校準技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM 和 AutoCal

型號

圖片

名稱(chēng)

訂貨號

Picture R&S®ZVA8 Vector Network Analyzer2 ports, 8 GHz

R&S®ZVA8 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

2 端口, 8 GHz

頻率范圍: 300 kHz - 8 GHz

測試端口: N (f)

Picture R&S®ZVA8 Vector Network Analyzer4 ports, 8 GHz

R&S®ZVA8 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

4 端口, 8 GHz

頻率范圍: 300 kHz - 8 GHz

測試端口: N (f)

Picture R&S®ZVA24 Vector Network Analyzer2 ports, 24 GHz

R&S®ZVA24 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

2 端口, 24 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 24 GHz

測試端口: 3.5 mm (m)

Picture R&S®ZVA24 Vector Network Analyzer4 ports, 24 GHz

R&S®ZVA24 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

4 端口, 24 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 24 GHz

測試端口: 3.5 mm (m)

Picture R&S®ZVA40 Vector Network Analyzer2 ports, 40 GHz

R&S®ZVA40 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

2 端口, 40 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 40 GHz

測試端口: 2.92 mm (m)

Picture R&S®ZVA40 Vector Network Analyzer2 ports, 40 GHz

R&S®ZVA40 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

2 端口, 40 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 40 GHz

測試端口: 2.4 mm (m)

Picture R&S®ZVA40 Vector Network Analyzer4 ports, 40 GHz

R&S®ZVA40 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

4 端口, 40 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 40 GHz

測試端口: 2.92 mm (m)

Picture R&S®ZVA40 Vector Network Analyzer4 ports, 40 GHz

R&S®ZVA40 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

4 端口, 40 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 40 GHz

測試端口: 2.4 mm (m)

Picture R&S®ZVA50 Vector Network Analyzer2 ports, 50 GHz

R&S®ZVA50 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

2 端口, 50 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 50 GHz

測試端口: 2.4 mm (m)

Picture R&S®ZVA50 Vector Network Analyzer4 ports, 50 GHz

R&S®ZVA50 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

4 端口, 50 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 50 GHz

測試端口: 2.4 mm (m)

Picture R&S®ZVA67 Vector Network Analyzer2 ports, 67 GHz

R&S®ZVA67 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

2 端口, 67 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 67 GHz

測試端口: 1.85 mm (m)

R&S®ZVA67 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

4 端口, 67 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 67 GHz

測試端口: 1.85 mm (m)

R&S®ZVA80 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

2 端口, 80 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 80 GHz

測試端口: 1mm (m)

R&S®ZVA110 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

2 端口, 110 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 110 GHz

測試端口: 1mm (m)

R&S®ZVA110 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

2 端口, 110 GHz

頻率范圍: 10 MHz - 110 GHz

測試端口: 1mm， w/o 線(xiàn)纜

出色的性能(*)

寬動(dòng)態(tài)范圍 典型值 >150 dB

高輸出功率 典型值 >18 dBm

高測量速度 每個(gè)點(diǎn) <2 μs

采樣時(shí)間非常短 每個(gè)點(diǎn) 430 ns

測量點(diǎn)數多 每條跡線(xiàn)多達 60001 個(gè)點(diǎn)

中頻帶寬大 15 MHz（脈沖包絡(luò )測量時(shí)為 30 MHz）

內部信號源 2（4 端口型號）

(*)需使用*數據、特殊選件或 1 Hz IF 帶寬， 詳見(jiàn)“規格簡(jiǎn)介”或 R&S®ZVA 參數表。

R&S®ZVA 已經(jīng)成為解決絕大多數挑戰性應用的里程碑式產(chǎn)品：

*臺頻率可高達 67 GHz，并且含兩路內部源的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀，可以快速地對放大器和混頻器進(jìn)行測量

• 線(xiàn)性和非線(xiàn)性放大器和混頻器測量：

° 對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進(jìn)行測量

° 對帶內置本振的群延時(shí)和相對相位進(jìn)行測量

° 對混頻器的變頻損耗和互調進(jìn)行測量

° 對放大器進(jìn)行互調和 Hot S 參數進(jìn)行測量

• 脈沖測量：

° *臺中頻帶寬高達 30 MHz 的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀，用于對工作頻率高達 67 GHz的放大器和混頻器進(jìn)行脈沖測量（詳細內容請參見(jiàn)“應用”和“選件”）

° 對脈寬小于 50 ns 的脈沖信號進(jìn)行分辨率高達 12.5 ns 的脈沖包絡(luò )測量

° 頻率和功率掃描式的脈內測量

• *臺工作頻率高達 50 GHz 、可以產(chǎn)生相位相干信號的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀

° 采用真差分模擬，可以快速、簡(jiǎn)便地測試平衡待測設備

° 輸入到DUT 參考面上的信號的幅值和相位關(guān)系支持用戶(hù)自定義

• 校準

° 多功能校準技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和 UOSM 

° 方便、快捷的矢量混頻器校準功能和帶有“未知通路”校準 UOSM的“適配器去除功能”

*化的測試和配置時(shí)間，提高了測試速度大中頻帶寬和寬動(dòng)態(tài)范圍，使測量更快、更加
R&S^®ZVA 創(chuàng )立了測量速度的新*：它將高達 1 MHz的中頻帶寬（可選 5/10 MHz）和高速合成器結合在一起，縮短了測量時(shí)間，從而提高了手動(dòng)調整和自動(dòng)化生產(chǎn)過(guò)程的效率。 在CW 模式下，每個(gè)測試點(diǎn)的測量時(shí)間不到 3.5μs；頻率掃描模式下200 多個(gè)測試點(diǎn)不到 5ms 即可完成。

由于該分析儀的動(dòng)態(tài)范圍寬、相位噪聲低，因而這種速度優(yōu)勢絲毫不會(huì )對測量準確性產(chǎn)生影響。 借助 R&S^®ZVA 上 100 多個(gè)獨立信道和配置的跡線(xiàn)，可以在zui短時(shí)間內完成復雜組件全面的功能測試。 不再需要耗時(shí)地加載新的儀表設置。


寬動(dòng)態(tài)范圍

zui小化的校準工作量和校準時(shí)間
R&S^®ZV-Z5x 自動(dòng)校準單元

采用自動(dòng)校準單元，將校準時(shí)間降低至zui?。?/p>

• 自動(dòng)檢測已經(jīng)連接的設備和端口：無(wú)需配置。

• 工作溫度范圍極寬，預熱時(shí)間幾乎為零。
手動(dòng)校準

• 羅德與施瓦茨網(wǎng)絡(luò )分析儀支持數量zui多的校準技術(shù)。 測試裝置的夾具、晶片、PCB、波導或者導線(xiàn)端頭可能需要校準。 選擇可以支持適用校準標準的校準技術(shù)。

• 系統設計有結構清晰的對話(huà)框，顯示所有的校準步驟，確保校準工作正確無(wú)誤。

• 校準期間，錯誤的連接僅需重做相應的校準步驟，即，無(wú)需從頭開(kāi)始*的重新校準。

• 對于多端口重新校準，更加省心省力：更換測試儀組件（例如，某個(gè)故障電纜）之后，僅需重新校準相應的通路。

• 避免重新校準：對于后續測量信道和設置，可以使用已有的校準結果。

并行測量 — 測量速度比原來(lái)快四倍

R&S^®ZVA 的發(fā)生器設計，使得每個(gè)測試端口都可以同時(shí)作為信號源和接收機使用。 因此，可以對測試端口進(jìn)行分組。 在各個(gè)測試端口組上進(jìn)行的測量任務(wù)可以彼此實(shí)現同步。 因而，可以并行地測量多個(gè) DUT 或者一個(gè) DUT 的多個(gè)通路； 測量時(shí)間僅相當于測量一個(gè)設備所需要的時(shí)間。 因此，同時(shí)測量?jì)蓚€(gè)兩端口DUT時(shí)，速度將提高一倍；同時(shí)測量四個(gè)單端口DUT時(shí)，速度將是原先的四倍。


并行測量

儀器各種設置之間的快速切換
在同時(shí)分析多個(gè)DUT時(shí)，你再也無(wú)需從硬盤(pán)逐個(gè)載入所需的儀器設置。一旦被調用，設置將始終保存于RAM中，其中包括計算獲得的數據，例如通過(guò)插值獲得的校準值。 因此，各種設置之間的切換幾乎不會(huì )產(chǎn)生延誤，例如：遠程控制模式下不到 10 ms 時(shí)間。 而對于傳統儀器來(lái)說(shuō)，設置的調用則需要花費長(cháng)達一秒鐘的時(shí)間。 每個(gè)設置都用一個(gè)單獨的測量窗口表示。 需要在不同窗口之間切換時(shí)，只需使用鼠標或按動(dòng)按鍵即可。 此外，這種設計還可以方便地處理并清晰地顯示大量的測量結果和跡線(xiàn)。


儀器各種設置之間的切換

在掃描的同時(shí)進(jìn)行數據傳輸

由于跡線(xiàn)數據可在捕獲測量數據的同時(shí)通過(guò)IEC/IEEE總線(xiàn)或LAN進(jìn)行傳輸，因而 R&S^®ZVA 上的數據傳輸時(shí)間對于重復測量序列來(lái)說(shuō)微不足道。

信道位和用戶(hù)端口——高速控制外部設備

為了進(jìn)一步縮短自動(dòng)測試周期，儀器后面板上提供了一個(gè)用于觸發(fā)I/O信號的特殊端口， 這些 I/O 信號可通過(guò) R&S^®ZVA 的內部測量序列直接同步測量裝置的外部設備或 DUT 設置。諸如“觸發(fā)就緒”等儀表狀態(tài)，可以用作直接控制外部設備的電信號。由于不需要使用遠程控制序列，因而節省了執行時(shí)間。

利用分段掃描實(shí)現*測量速度、準確性和動(dòng)態(tài)范圍

分段掃描功能允許將一次掃描分割成數量不受限制的許多段，每一段的測試點(diǎn)間距、測量帶寬和信號發(fā)生器功率等各分段掃描參數可單獨進(jìn)行定義，從而實(shí)現與DUT特性之間的*匹配。 以此實(shí)現測量速度和準確度的進(jìn)一步優(yōu)化。

2.直觀(guān)的用戶(hù)界面和顯示結構
為了*地滿(mǎn)足用戶(hù)需求，羅德與施瓦茨公司的全部網(wǎng)絡(luò )分析儀的所有功能都可以采用前面板按鍵、鼠標和鍵盤(pán)，或者同時(shí)采用兩者進(jìn)行控制。對話(huà)框直觀(guān)地顯示儀表設置和可輸入的參數。僅需少數幾個(gè)菜單，就可以完成基本的設置。 系統設計了其它表格和對話(huà)框，可以用于更加詳盡的設置。 此外，鼠標點(diǎn)擊顯示界面中的參數區域時(shí)，會(huì )彈出菜單，從中可以選擇目標參數 – 采用該功能，可以極其方便、快速地操作 R&S^®ZVA。

虛擬阻抗匹配的參數化配置網(wǎng)絡(luò )


（重新）配置跡線(xiàn)、信道、標度和顯示區域等


配置時(shí)域測量（TDR）功能

羅德與施瓦茨公司的所有網(wǎng)絡(luò )分析儀的主要目的是實(shí)現配置的方便與靈活性以及海量測量數據（即，跡線(xiàn)和測量信道）的處理能力。 跡線(xiàn)、信道、顯示和設置等的數量?jì)H受 PC 內存的限制（例如，可支持高達 100 個(gè)跡線(xiàn)，且每個(gè)跡線(xiàn)zui多可支持 401 個(gè)數據點(diǎn)）。 即使是不同信道的跡線(xiàn)，也可以組合在一個(gè)區內，據此，可以方便地比較使用了不同參數的測量結果。 完成設置之后，所有跡線(xiàn)均可以重新布局、移至不同的區域，或者分配給不同的信道；更改設置時(shí)，無(wú)需一切從頭開(kāi)始。


靈活的信道和跡線(xiàn)布局

3.式的校準技術(shù)

多用途校準技術(shù)，可滿(mǎn)足所有領(lǐng)域的應用

R&S^®ZVA 不僅提供傳統的TOSM校準方法（直通、開(kāi)路、短路、匹配），而且還提供其他多種校準技術(shù)。 由于 R&S^®ZVA 的每個(gè)測試端口都配備了一個(gè)單獨的參考接收機，因而可以使用先進(jìn)的 7-term 校準技術(shù)，其中包括 TRL/LRL（直通、反射、傳輸線(xiàn)/傳輸線(xiàn)、反射、傳輸線(xiàn)）、TOM（直通、開(kāi)路、匹配）、TNA（直通、網(wǎng)絡(luò )、衰減器）和 TRM（直通、反射、匹配）。這些校準技術(shù)適合測試夾具或晶片的校準。 由于校準直接在 DUT 參考面上進(jìn)行，因而*消除了測試夾具產(chǎn)生的影響。

UOSM 校準技術(shù)極其類(lèi)似于 TOSM 技術(shù)。但是，前者允許使用未知通路（“U”）作為校準標準，即，無(wú)需知道某個(gè)通路的參數（例如，長(cháng)度或衰減）。 此外，支持各種類(lèi)型連接器隨意組合的適配器也可用作通路。因此，極大地方便了帶有不同類(lèi)型連接器的 DUT 的校準任務(wù)。

使用靈活的校準套件

任何一種網(wǎng)絡(luò )分析儀的測量精度均極大地取決于例如長(cháng)度、容量等所有電氣和機械參數。這些參數決定了幅值和相位響應，因而，也決定了校準標準中的 S 參數。 當然，必須盡可能準確地獲得這些參數。 為了定義校準標準，必要擁有考慮了可能出現的全部非理想條件的等效電路。 羅德與施瓦茨的所有網(wǎng)絡(luò )分析儀均配設有清晰的等效電路圖和建模功能，*這一需求，可以進(jìn)行詳盡的參數設置。

通過(guò)電氣延時(shí)、任意阻抗和損耗定義匹配


采用等效電路圖定義匹配，其中，考慮了寄生電感和寄生電容效應

除了手動(dòng)地定義校準套件之外，也可以通過(guò)文件方便地安裝校準套件 – 甚至可以采用其它提供商的 ASCII 碼文件進(jìn)行安裝。 可以切換至其它提供商所使用的測量單元。

自動(dòng)校準――快速、無(wú)錯誤、高精度

盡管 TOSM、TRM 和 TRL 等手動(dòng)校準技術(shù)可用于多端口測量，但是比較耗時(shí)，出錯率高，并且校準裝置磨損嚴重。 羅德與施瓦茨提供同軸單端口和多端口校準所需的自動(dòng)校準單元，該單元在連接后可立即進(jìn)入工作狀態(tài)，不到30秒時(shí)間可完成201個(gè)測試點(diǎn)的四端口校準。

4.通信

系統設計有各種后面板連接器，用于支持：

• 通過(guò)遠程控制軟件控制儀表。

• 采用 R&S^®NRP探頭進(jìn)行直流電壓和功率測量

• 同步功能（例如，參考頻率、外部觸發(fā)器、掃描和觸發(fā)狀態(tài)指示等，用以直接、快速地與外部設備進(jìn)行交互）。

• 掃描時(shí)間測量：USER CONTROL 端口的針腳 4 指示測量時(shí)間，與菜單“Trigger settings（觸發(fā)器設置）”中的設置相對應（掃描、掃描段、測試點(diǎn)，或者部分測量）。 借助示波器，可以方便地監控每一種情況下實(shí)際所需要的執行時(shí)間。