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簡(jiǎn)要描述:泰克 Tektronix TLA5000 邏輯分析儀 TLA5000 系列邏輯分析儀主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)500 ps/32 Mb 的深內存定時(shí)及每條通道上125 ps 的MagniVu 同步高分辨率定時(shí),可以滿(mǎn)懷信心地對快速信號進(jìn)行數字信號定時(shí)測量235 MHz 狀態(tài)采集,分析高速同步數字電路;IView TM 模擬和數字信號同時(shí)相關(guān)顯示,查看模擬問(wèn)題怎樣影響您的數字信號;
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品牌 | 泰克 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
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泰克 Tektronix TLA5000 邏輯分析儀
基本參數: TLA5000 系列邏輯分析儀主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)500 ps/32 Mb 的深內存定時(shí)及每條通道上125 ps 的MagniVu 同步高分辨率定時(shí),可以滿(mǎn)懷信心地對快速信號進(jìn)行數字信號定時(shí)測量235 MHz 狀態(tài)采集,分析高速同步數字電路;IView TM 模擬和數字信號同時(shí)相關(guān)顯示,查看模擬問(wèn)題怎樣影響您的數字信號;通過(guò)建立/保持時(shí)間超限觸發(fā)和顯示,檢驗數字設備的建立/保持時(shí)間性能;34/68/102/136 通道配置提供了靈活的解決方案,可以適應任何預算應用;數字硬件檢驗和調試;數字硬件性能監測和測量;單處理器和總線(xiàn)調試。功能 優(yōu)點(diǎn) MagniVu? 采集 借助于所有通道上的較高采樣分辨率(高20 ps)*避免定時(shí)或狀態(tài)采集模式下的事件遺漏。通過(guò)旗標來(lái)標記毛刺 避免了通過(guò)功能來(lái)手動(dòng)搜索所有通道以顯示毛刺出現的時(shí)間和通道的需要。TS/TH 違例觸發(fā) 利用能夠自動(dòng)獲得斷續設置和保留違例的實(shí)時(shí)違例觸發(fā)功能避免耗時(shí)而復雜的電路輸出監測任務(wù)。
自動(dòng)測量 利用先進(jìn)的測量輕松地總結您的設計效果,這些測量結果包括:頻率、周期、脈沖寬度、占空比以及邊沿計數。拖放觸發(fā)器 通過(guò)簡(jiǎn)單而直觀(guān)的觸發(fā)器設置快速隔離事件。觸發(fā)器包括:通道邊沿、通道值、總線(xiàn)值、多群組值、毛刺、設置和保持違例,或者“在任何情況下觸發(fā)"(Trigger on Anything)。iView? 顯示 通過(guò)集中顯示時(shí)間相關(guān)的、集成的模擬與數字數據獲得全面的系統可視性泰克TLA5000B 系列邏輯分析儀:優(yōu)秀的調試功能、簡(jiǎn)單性和低廉的價(jià)格對需要確定初始化故障、運行中斷和間歇性操作問(wèn)題的任何數字設計人員,價(jià)格低廉的TLA5000B 系列邏輯分析儀為他們提供了高速定時(shí)分辨率、深內存采集、快速狀態(tài)采集和完善的觸發(fā)功能。不管是*次使用邏輯分析儀的用戶(hù)還是資深用戶(hù),TLA5000B 系列都為同時(shí)進(jìn)行狀態(tài)分析和定時(shí)分析提供了理想的解決方案。直觀(guān)的用戶(hù)界面、熟悉的基于Windows 的桌面和OpenChoice? 聯(lián)網(wǎng)和分析功能,使TLA5000B 系列邏輯分析儀可以簡(jiǎn)便地在用戶(hù)的設計環(huán)境中組網(wǎng)。500 ps 的定時(shí)分辨率和32Mb 記錄長(cháng)度、同時(shí)實(shí)現125 ps MagniVu 定時(shí)分辨率,使您能夠滿(mǎn)懷信心地在速度日益提高的信號上測量數字信號定時(shí)。由于MagniVu? 的定時(shí)分辨率,您可以迅速找到各種困難的問(wèn)題,如數字邏輯錯誤、毛刺、建立時(shí)間/ 保持時(shí)間違規和串擾。您可以使用建立時(shí)間/ 保持時(shí)間超限觸發(fā)和顯示,檢驗數字設備的建立時(shí)間/ 保持時(shí)間性能。今天,大多數設計可能會(huì )同時(shí)具有數字問(wèn)題和模擬問(wèn)題。通過(guò)iView? 時(shí)間相關(guān)的模擬和數字集成顯示,您可以在邏輯分析儀顯示屏上,清楚地查看模擬問(wèn)題怎樣影響數字信號。
泰克 Tektronix TLA5000 邏輯分析儀
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