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簡(jiǎn)要描述:MFO6502Teseq MFO6502 EMC測試主機 抗擾度測試模擬發(fā)生器 NSG 3040NSG3040系統設計于滿(mǎn)足用于CE標志測試的傳導EMC測試需要,它一般包括組合波、EFT脈沖和PQT。強大的擴展能力使得該系統具有更廣泛的應用范圍。 l 成熟、*的“主-從"概念技術(shù)使得單個(gè)脈沖模塊能夠獨立校準,并將校準資料和修正系數存儲于從控制器上。新模塊安裝簡(jiǎn)便,無(wú)需返回整個(gè)系統進(jìn)行校準。 l 由
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應用領(lǐng)域 | 綜合 |
MFO6502Teseq MFO6502 EMC測試主機
抗擾度測試模擬發(fā)生器 NSG 3040NSG3040系統設計于滿(mǎn)足用于CE標志測試的傳導EMC測試需要,它一般包括組合波、EFT脈沖和PQT。強大的擴展能力使得該系統具有更廣泛的應用范圍。 l 成熟、*的“主-從"概念技術(shù)使得單個(gè)脈沖模塊能夠獨立校準,并將校準資料和修正系數存儲于從控制器上。新模塊安裝簡(jiǎn)便,無(wú)需返回整個(gè)系統進(jìn)行校準。 l 由于采用技術(shù)先進(jìn)的組件,NSG 3040在開(kāi)關(guān)切換技術(shù)和相位精度方面建立了新的標準,并且超越了現行標準的要求。
l 各參數值均為高度可視的,通過(guò)大的觸摸輸入鍵可以迅速選擇并修改這些參數值。該操作不需要觸控筆,測試參數可以迅速、簡(jiǎn)便地編輯出來(lái)??梢院?jiǎn)便地進(jìn)行多步驟測試程序的增加、程序次序及參數值的修改。 l 選擇“高級模式"后,用戶(hù)可以在測試中使用滾輪進(jìn)行手動(dòng)參數修改-有效、迅速地簡(jiǎn)化激活關(guān)鍵閾值的方法。 l 通過(guò)易操作的SD讀卡器可進(jìn)行固件快速下載??梢酝暾谋4嬗捎脩?hù)的測試。在存儲空間不夠的特殊情況下,可用市場(chǎng)購買(mǎi)的SD記憶卡更換該記憶卡,而存放其中的測試文件可被輕松復制進(jìn)更大內存的SD卡中。 l NSG3040具有以太網(wǎng)端口,可接受來(lái)自個(gè)人電腦的外部控制。Windows軟件簡(jiǎn)化了測試程序并允許為各種類(lèi)型的測試編寫(xiě)復雜的測試序列。在測試進(jìn)程中,操作人員可以進(jìn)行觀(guān)察并在測試操作中生成測試報告,以此增加長(cháng)期測試的效率。
產(chǎn)品特點(diǎn):A. 模塊化、可擴展系統B. 浪涌電壓可達4.4kVC. EFT/脈沖群可達4.8 kV/1 MHZD. PQT至16 A/260 VAC & DCE. 易操作的7"彩色觸摸屏F. DTA(直接測試程序調用)功能可提供G. 快速標準測試H. 測試過(guò)程中可修改參數I. 具有大量可選測試配件 該設備可進(jìn)行以下測試: ? 組合波脈沖1, 2/50 ~ 8/20MS(組合浪涌脈沖): 脈沖符合EC/EN 61000-4-5標準錨點(diǎn)技術(shù)參數:脈沖電壓(開(kāi)路): +200 V至4.4 kV(以1 V為步長(cháng))脈沖電流(短路): +100 A至2.2 kA阻抗: 2/12 Ω極性: 正/負/交替脈沖重復周期: 10 s至600 s(以1 s為步長(cháng))測試時(shí)間 : 1至9999個(gè)脈沖,不間斷相位同步: 異步、同步0至359°(以1°為步長(cháng))耦合: 外部/內部
脈沖群(EFT)5/50 ns: 脈沖符合EC/EN 61000-4-4標準技術(shù)參數:脈沖幅度: +200 V至4.8 kV(以1 V為步長(cháng)),開(kāi)路 +100 V至2.4 kV(50 Ω匹配系統)脈沖群頻率: 100 Hz至1000 kHz極性: 正/負/交替重復時(shí)間: 1 ms至4200 s (70 min)脈沖群時(shí)間: 1 us至1999 s,單脈沖,不間斷測試時(shí)間: 1 s至1000 h相位同步: 異步、同步0至359°(以1°為步長(cháng))耦合: 外部/內部 ? 電壓暫降&電壓跌落: 符合EC/EN 61000-4-11標準錨點(diǎn)技術(shù)參數:電壓暫降&電壓跌落: 從EUT輸入電壓跌至0 V、0%帶有可選自耦變壓器的Uvar: 取決于型號(VAR 650x)帶有步進(jìn)式變壓器的Uvar: 0、40、70、80% (INA650x)峰值沖擊電流能力: 500 A (230V時(shí))開(kāi)關(guān)時(shí)間: 1至5 MS(100 0負載)周期時(shí)間: 20 us至1999 s、循環(huán)1至99’999次測試時(shí)間: 1 s至70’000 min,1至99’999個(gè)周期,不間斷重復時(shí)間: 40 MS至35 min、循環(huán)1至99999次相位同步: 異步、同步0―359°(以1°為步長(cháng))
MFO6502Teseq MFO6502 EMC測試主機
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