咨詢(xún)熱線(xiàn)
18948178581
18948178581
美佳特科技
MEIJIATE TECHNOLOGY售前售中售后完整的服務(wù)體系
誠信經(jīng)營(yíng)質(zhì)量保障價(jià)格合理服務(wù)完善
當前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 其他電子測試測量設備 > 測試系統
相關(guān)文章
Related Articles
chroma 58173-FC LED自動(dòng)測試系統，主要特色：提供*電性測試 (200V/2A) ，可滿(mǎn)足HV及HP測試Chroma大面積光偵測器(量測角度可達148度)半自動(dòng)精密LED wafer/chip點(diǎn)測設備特殊無(wú)鉆孔真空平臺設計特制Edge Sensor具有點(diǎn)測針壓穩定
chroma 58154 ESD 測試系統，主要特色：提供兩種ESD 測試標準 : Human body model and Machine model用戶(hù)自定項目: Interval, cycle and polarity are programmable高分辨率 : 5V per-step for Machine model
chroma 58182 Top-view 測試系統，主要特色：可量測白光或 RGB LED Top-view Light Bar 之光均勻性搭載自動(dòng)影像辨識功能杰出之光學(xué)量測表現成功篩檢 ESD 損傷之 LED Light bar可接取 FPC/PCB Light Bar 之平臺
chroma 58183 LED Light Bar 電性測試系統，主要特色：微電流供應與量測PC設計之架構支持多任務(wù)量測，使用者可一次設定多組測試項目進(jìn)行量測多支持4組外加控制盒使用Chroma通用L/B接線(xiàn)治具，可更廣泛接取各種LED燈條進(jìn)行測試軟件具權限設定與管理之功能
chroma 7935 晶圓檢測系統 主要特色：大可檢測8“ 晶圓 (檢測區域達10“ 范圍 )可因應不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測項目上片后晶圓對位機制自動(dòng)尋邊功能可適用于不同形狀之晶圓瑕疵規格編輯器可讓使用者自行編輯檢測規格影像辨識成功率高達 98%可結合上游測試機晶粒資料，合并后上傳至下一道制程設備提供檢測報表編輯器，使用者可自行選擇適用資料并進(jìn)行分析適合LED、雷射二極體及影像感測器等產(chǎn)
chroma IS-SA 材料散射測量系統，主要特色：一次量測可快速取得所有角度的資料全面及自動(dòng)化的控制照明光源的角度廣泛的光源和樣品控制配置選項易於使用的控制和分析軟件數據可以導出在光學(xué)設計和模擬工具軟件
chroma VisionCAL LED顯示屏校正系統，主要特色：Complete measurement system for LED video panel correctionProMetric Imaging Colorimeter measures the brightness and color of all LEDs in the screenVision
chroma 8200 開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測試系統 主要特色：測試程式編輯功能測試報告編輯功能使用者權限設定測試項目/程式控管功能人員進(jìn)出系統紀錄廣泛的模組化硬體以提供高準確及重覆量測經(jīng)由系統預設測試項目，可提高測試生產(chǎn)率佳成本效益比圖形介面Windows 98/NT/2000以上的作業(yè)環(huán)境
微信掃一掃
