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    Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B精度指標主要特性與技術(shù)指標主要性能技術(shù)指標.低PDL不確定度:±0.002dB.低頻譜紋波不確定度:±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準選件.使用特定校準時(shí),不確定度為±1.5%.使用PTB校準時(shí),不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專(zhuān)為探測低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設計,適用于光元器件測試。該探頭配有...

  • 2017

    9-14

    Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B操作說(shuō)明主要特性與技術(shù)指標主要性能技術(shù)指標.低PDL不確定度:±0.002dB.低頻譜紋波不確定度:±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準選件.使用特定校準時(shí),不確定度為±1.5%.使用PTB校準時(shí),不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專(zhuān)為探測低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設計,適用于光元器件測試。該探頭配有...

  • 2017

    9-14

    Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B規格范圍主要特性與技術(shù)指標主要性能技術(shù)指標.低PDL不確定度:±0.002dB.低頻譜紋波不確定度:±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準選件.使用特定校準時(shí),不確定度為±1.5%.使用PTB校準時(shí),不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專(zhuān)為探測低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設計,適用于光元器件測試。該探頭配有...

  • 2017

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    Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B說(shuō)明書(shū)主要特性與技術(shù)指標主要性能技術(shù)指標.低PDL不確定度:±0.002dB.低頻譜紋波不確定度:±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準選件.使用特定校準時(shí),不確定度為±1.5%.使用PTB校準時(shí),不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專(zhuān)為探測低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設計,適用于光元器件測試。該探頭配有磁...

  • 2017

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    Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B選件配置主要特性與技術(shù)指標主要性能技術(shù)指標.低PDL不確定度:±0.002dB.低頻譜紋波不確定度:±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準選件.使用特定校準時(shí),不確定度為±1.5%.使用PTB校準時(shí),不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專(zhuān)為探測低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設計,適用于光元器件測試。該探頭配有...

  • 2017

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    Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B二手價(jià)格主要特性與技術(shù)指標主要性能技術(shù)指標.低PDL不確定度:±0.002dB.低頻譜紋波不確定度:±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準選件.使用特定校準時(shí),不確定度為±1.5%.使用PTB校準時(shí),不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專(zhuān)為探測低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設計,適用于光元器件測試。該探頭配有...

  • 2017

    9-14

    Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625Busermanual主要特性與技術(shù)指標主要性能技術(shù)指標.低PDL不確定度:±0.002dB.低頻譜紋波不確定度:±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準選件.使用特定校準時(shí),不確定度為±1.5%.使用PTB校準時(shí),不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專(zhuān)為探測低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設計,適用于光元器件測試...

  • 2017

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    Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B指標參數主要特性與技術(shù)指標主要性能技術(shù)指標.低PDL不確定度:±0.002dB.低頻譜紋波不確定度:±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準選件.使用特定校準時(shí),不確定度為±1.5%.使用PTB校準時(shí),不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專(zhuān)為探測低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設計,適用于光元器件測試。該探頭配有...

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